GD90輝光放(fàng)電質譜儀

GD90輝光放(fàng)電質譜儀

Autoconcept GD90是一(yī)個專爲高精度元素分(fēn)析所設計的高分(fēn)辨輝光放(fàng)電質譜儀。此輝光放(fàng)電質譜儀（GDMS）提供了固體(tǐ)金屬與緣體(tǐ)的直接分(fēn)析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋範圍，可得到超過70種元素的有效數據，靈敏度高，輕元素重元素均可。

    GDMS技術使原子化（碎片化）過程與離(lí)子化過程分(fēn)開(kāi)進行，故而可容易的對ppb至ppt級别的痕量雜(zá)質進行測量。此法還使得GDMS技術擁有 小(xiǎo)的基體(tǐ)效應且無須特定參照材料。它可對金屬與合金進行全掃描分(fēn)析，可對半導體(tǐ)進行整體(tǐ)的測量分(fēn)析，可對多層結構與鍍層進行深度剖析。是包括金屬、合金、半導體(tǐ)以及緣體(tǐ)（須配RF源）等高純材料的生(shēng)産與質量控制的理想工(gōng)具。

GD90輝光放(fàng)電質譜儀的主要特性：

·高分(fēn)辨率，特别是對于有幹擾離(lí)子存在的測定而言十分(fēn)重要。

·廣泛的元素涵蓋範圍，軟件中(zhōng)包括70個元素相關的幹擾離(lí)子數據。

·由于原子化和離(lí)子化過程發生(shēng)在不同區域，帶來可忽略的基體(tǐ)效應。

·低至亞ppb級的定量數據。

·具有深度剖面同位素比值分(fēn)析能力。

· 少的樣品制備過程。

應用領域：

輝光放(fàng)電質譜儀--AUTOCONCEPT GD90              

半導體(tǐ)：

幾乎所有的電子、光學與光電設備都需要高純度半導體(tǐ)。此類半導體(tǐ)的電學性質依賴于其中(zhōng)的雜(zá)質成分(fēn)。此類材料隻有達到低的雜(zá)質水平才能保證終端産品（例如微處理器與微型器件）的性能。

GDMS有助于半導體(tǐ)的整體(tǐ)調查分(fēn)析，可對雜(zá)質進行定量鑒定，可達到痕量與超痕量水平。

核能：

在核技術與核研究中(zhōng)，科研人員(yuán)對同位素比例進行精準的測量有着極大(dà)的興趣。被廣泛接受的方法是熱電離(lí)質譜(TIMS)。在此方法中(zhōng)，樣品必須被溶解，需要在分(fēn)析前對感興趣的分(fēn)析物(wù)進行化學分(fēn)離(lí)。

GDMS同樣被用于含核材料樣品的同位素鑒定。通過對比，GDMS被證明是在精準度要求的前提下(xià)對B，Li以及U同位素豐度鑒定的優勢性技術。GDMS有着減少樣品制備過程的優勢。

高純度金屬:

在金屬與合金的大(dà)批量生(shēng)産過程中(zhōng)，痕量雜(zá)質的總量不易控制。但爲了控制其力學、化學、電學與其他高級性質，受控添加痕量元素以及提純過程都是減少材料雜(zá)質含量所需要的。

GDMS有助于成品中(zhōng)雜(zá)質的檢出與鑒定，以确保由此金屬制成的系統的質量與性能。

合金

合金與超合金試生(shēng)産高性能機械-例如渦輪機-的關鍵材料。由于此類機械通常在高溫高壓下(xià)運行，即使痕量元素成分(fēn)發生(shēng)輕微變化都有可能導緻災難性後果。

GDMS在鑒定産品的元素組成上非常理想，用以保證機械系統的 優化性能。

輝光放(fàng)電質譜法作爲一(yī)種固體(tǐ)樣品的直接分(fēn)析方法，被認爲是目前爲止*的同時具有 廣泛的分(fēn)析元素範圍和足夠靈敏度的元素分(fēn)析方法，已成爲固體(tǐ)材料多元素分(fēn)析尤其是高純材料分(fēn)析的強有力的工(gōng)具。直接對固體(tǐ)進行分(fēn)析避免了将固體(tǐ)轉化成溶液時因在溶解、稀釋等過程中(zhōng)造成的玷污和靈敏度降低，而且該方法對樣品的分(fēn)析面積大(dà)，所得數據結果有好的代表性。

優勢分(fēn)析應用領域： 

 金屬及合金材料

包括高純金屬，濺射靶材，稀貴金屬，超級合金等材料的痕量雜(zá)質的半定量和定量分(fēn)析，同時可分(fēn)析C、N、O等輕元素。 

 半導體(tǐ)材料

包括矽片，CdTe，GaAs及其他多種高純電子材料的雜(zá)質分(fēn)析。 

 無機非金屬材料

包括陶瓷粉末，玻璃，稀土氧化物(wù)等材料分(fēn)析。 

薄層分(fēn)析，深度分(fēn)布剖面分(fēn)析等