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nano-FTIR納米傅裏葉紅外(wài)光譜儀
現代化學的一(yī)大(dà)科研難題是如何實現在納米尺度下(xià)對材料進行無損化學成分(fēn)鑒定。現有的一(yī)些高分(fēn)辨成像技術，如電鏡或掃描探針顯微鏡等，在一(yī)定程度上可以有限的解決這一(yī)問題，但是這些技術本身的化學敏感度太低，已經無法滿足現代化學納米分(fēn)析的要求。而另一(yī)方面，紅外(wài)光譜具有很高的化學敏感度，但是其空間分(fēn)辨率卻由于受到二分(fēn)之一(yī)波長的衍射極限限制，隻能達到微米級别，因此也無法進行納米級别的化學鑒定。nano-FTIR納米傅裏葉紅外(wài)光譜儀
近期neaspec公司利用其*的散射型近場光學技術發展出來的nano-FTIR納米傅裏葉紅外(wài)光譜技術，使得納米尺度化學鑒定和成像成爲可能。這一(yī)技術綜合了原子力顯微鏡的高空間分(fēn)辨率，和傅裏葉紅外(wài)光譜的高化學敏感度，因此可以在納米尺度下(xià)實現對幾乎所有材料的化學分(fēn)辨。因而，現代化學分(fēn)析的納米新時代從此開(kāi)始。
neaspec公司的散射型近場技術通過幹涉性探測針尖掃描樣品表面時的反向散射光，同時得到近場信号的光強和相位信号。當使用寬波紅外(wài)激光照射AFM針尖時，即可獲得針尖下(xià)方10nm區域内的紅外(wài)光譜，即nano-FTIR.nano-FTIR
nano-FTIR 光譜與标準FTIR光譜高度吻合
在不使用任何模型矯正的條件下(xià)，nano-FTIR獲得的近場吸收光譜所體(tǐ)現的分(fēn)子指紋特征與使用傳統FTIR光譜儀獲得的分(fēn)子指紋特征吻合度*（如下(xià)圖），這在基礎研究和實際應用方面都具有重要意義，因爲研究者可以将nano-FTIR光譜與已經廣泛建立的傳統FTIR光譜數據庫中(zhōng)的數據進行對比，從而實現快速準确的進行納米尺度下(xià)的材料化學分(fēn)析。對化學成分(fēn)的高敏感度與超高的空間分(fēn)辨率的結合，使得nano-FTIR成爲納米分(fēn)析的*工(gōng)具。 nano-FTIR
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