原子力顯微鏡，簡稱AFM，是一(yī)種能夠研究物(wù)體(tǐ)表面結構的分(fēn)析儀器，主要是通過對檢測對象的表面和一(yī)個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來對物(wù)體(tǐ)的結構進行深入的研究。通過原子力顯微鏡掃描下(xià)的物(wù)體(tǐ)，能夠以納米級的分(fēn)辨率來對物(wù)體(tǐ)的表面結構進行細化的分(fēn)析與研究。
原子力顯微鏡在一(yī)定程度上彌補了普通掃描顯微鏡的缺陷，并且提高了檢測的分(fēn)辨率，使得物(wù)體(tǐ)的性質能夠得到了更加細化的分(fēn)析，能夠有效的對生(shēng)物(wù)大(dà)分(fēn)子進行分(fēn)析研究，尤其是核酸以及蛋白(bái)質結構的研究，有着重要作用，因而在生(shēng)物(wù)領域有着極其廣泛的應用。但是相比較于傳統的掃描顯微鏡，原子力顯微鏡的缺點就是成像的範圍比較小(xiǎo)，并且速度不快，在一(yī)定程度上受到了檢測探頭方面的限制。
AFM在高分(fēn)子材料中(zhōng)的常見用途：
（1）觀察膜表面的形貌和相分(fēn)離(lí)，研究高聚物(wù)表面性能：比如表征材料表面粗糙度，研究共混物(wù)相分(fēn)離(lí)”海島“結構，測量材料表面的納米摩擦力。
（2）分(fēn)析高聚物(wù)結晶形态，研究水膠乳成膜過程。
（3）研究單鏈高分(fēn)子結構，表征高分(fēn)子鏈構象，研究高分(fēn)子單鏈性能。
（4）研究高聚物(wù)與納米顆粒的相互作用。
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