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曆時6年的研發，荷蘭飛納公司于2018年推出了首套穩定運行的台式場發射（FEG）電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機Phenom LE台式場發射電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機，采用肖特基場發射電子槍（FEG），集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分(fēn)析于一(yī)體(tǐ)。飛納台式場發射電鏡操作簡單，效率高，無需防震台和磁屏蔽，無樓層要求，隻需要一(yī)張承重200kg的桌子。
Delphi CLEM熒光掃描電鏡一(yī)體(tǐ)機是荷蘭掃描電鏡制造商(shāng) Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商(shāng) Delmic 于 2014 年聯合推出的将熒光顯微鏡和台式電鏡高度整合在一(yī)起的設備。
Phenom GSRqiang擊殘留物(wù)台式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中(zhōng)，qiang擊殘留物(wù) GSR 的分(fēn)析将發揮重要的作用。GSR 分(fēn)析技術首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒。一(yī)旦發現可疑的顆粒，使用能譜識别在該粒子中(zhōng)的元素。Z常見的搜索元素爲 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火(huǒ)的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可Z爲搜索條件進行搜索。
Phenom Pure 高性價比标準版電子顯微鏡是一(yī)款操作方便、界面友好的台式電鏡，用慣光學顯微鏡的用戶隻需稍加培訓即可輕松操作這款電鏡。這款電鏡具有掃描電鏡的一(yī)切基本功能，可以滿足用戶的大(dà)部分(fēn)成像需求。
Phenom Pro高分(fēn)辨率專業版電子顯微鏡是飛納電鏡系列中(zhōng)先進的産品，第五代 Phenom Pro 放(fàng)大(dà)倍數提升爲 150,000 倍，分(fēn)辨率優于 8 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分(fēn)辨率Z高的台式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；
Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機，是*的集成化成像分(fēn)析系統，分(fēn)辨率提升 20%，進一(yī)步增加應用範圍，更加适用于對電子束敏感的樣品。借助該系統，既可觀察樣品的表面形貌，又(yòu)可分(fēn)析其元素組分(fēn)。
