重慶原子力顯微鏡的特點是什麽?

更新時間:2021-08-29      點擊次數:761
   重慶原子力顯微鏡一(yī)種可用來研究包括絕緣體(tǐ)在内的固體(tǐ)材料表面結構的分(fēn)析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一(yī)個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物(wù)質的表面結構及性質。
 
  重慶原子力顯微鏡的特點
  1.高分(fēn)辨力能力遠遠超過掃描電子顯微鏡(SEM),以及光學粗糙度儀。樣品表面的三維數據滿足了研究、生(shēng)産、質量檢驗越來越微觀化的要求。
  2.非破壞性,探針與樣品表面相互作用力爲10-8N以下(xià),遠比以往觸針式粗糙度儀壓力小(xiǎo),因此不會損傷樣品,也不存在掃描電子顯微鏡的電子束損傷問題。另外(wài)掃描電子顯微鏡要求對不導電的樣品進行鍍膜處理,而原子力顯微鏡則不需要。
  3.應用範圍廣,可用于表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸台階測定、層間絕緣膜的平整度評價、VCD塗層評價、定向薄膜的摩擦處理過程的評價、缺陷分(fēn)析等。
  4.軟件處理功能強,其三維圖象顯示其大(dà)小(xiǎo)、視角、顯示色、光澤可以自由設定。并可選用網絡、等高線、線條顯示。圖象處理的宏管理,斷面的形狀與粗糙度解析,形貌解析等多種功能。
 
  與常規顯微鏡比較,重慶原子力顯微鏡的優點是在大(dà)氣條件下(xià),以高倍率觀察樣品表面,可用于幾乎所有樣品(對表面光潔度有一(yī)定要求),而不需要進行其他制樣處理,就可以得到樣品表面的三維形貌圖象。并可對掃描所得的三維形貌圖象進行粗糙度計算、厚度、步寬、方框圖或顆粒度分(fēn)析。
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