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XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀
XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀特點：
* 采用全新的光路設計和光學部件，大(dà)幅度提高各元素特征X射線強度（CPS），從而使儀器分(fēn)析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測定時間。
* 對影響儀器穩定性的主要環節做了實質性改進，從而爲顯著提高儀器的穩定性創造了條件。
* 對影響儀器可靠性的主要環節做了全新設計，顯著提高了儀器長期連續工(gōng)作的可靠性。
* 元素譜峰束集電路采用工(gōng)業控制機内插式高速MCA卡。
* 本儀器爲多道同定型WDXRF光譜儀，每個元素一(yī)個通道，多數部件可以互換，穩定分(fēn)析，速度快，真空室小(xiǎo)，故障率低。
* 分(fēn)析元素多（Na~U），分(fēn)析含量範圍廣ppm～100％；
* 樣品處理相對簡單；
* 試樣形态多樣化（固體(tǐ)、液體(tǐ)、粉末等）；
* 可快速分(fēn)析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物(wù)料；非破損分(fēn)析；
* 采用多路數字MCA實時檢測，不僅便于儀器調試和故障診斷，并可進一(yī)步提 高儀器的分(fēn)析精度和穩定性。
在水泥行業應用：
XF-8100非常适合在大(dà)、中(zhōng)、小(xiǎo)型水泥廠（單、雙窯）做質量過程控制使用。可用于分(fēn)析原料（如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物(wù)）中(zhōng)主量和次量氧化物(wù)的分(fēn)析;生(shēng)料、熟料和水泥中(zhōng)的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常規元素的測定。
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