電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機

簡要描述:Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機,是*的集成化成像分(fēn)析系統,分(fēn)辨率提升 20%,進一(yī)步增加應用範圍,更加适用于對電子束敏感的樣品。借助該系統,既可觀察樣品的表面形貌,又(yòu)可分(fēn)析其元素組分(fēn)。

  • 産品型号:Phenom ProX
  • 廠商(shāng)性質:代理商(shāng)
  • 更新時間:2017-12-20
  • 訪  問  量: 2447

詳細介紹

Phenom ProX是第五代電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機,是*的集成化成像分(fēn)析系統,分(fēn)辨率提升 20%,進一(yī)步增加應用範圍,更加适用于對電子束敏感的樣品。借助該系統,既可觀察樣品的表面形貌,又(yòu)可分(fēn)析其元素組分(fēn)。研究樣品時,得到樣品的形貌信息隻是解決了一(yī)半問題。獲得樣品的元素組分(fēn)信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設計的能譜探測器,飛納電鏡能譜一(yī)體(tǐ)機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。能譜儀是一(yī)種基于樣品被電子束激發而産生(shēng) X 射線的分(fēn)析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是*集成設計在飛納 Phenom ProX 系統中(zhōng)。Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實現多點分(fēn)析,檢測樣品的元素組分(fēn)。此外(wài),該軟件還可以擴展到元素分(fēn)析線面掃(mapping)功能。分(fēn)步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導出分(fēn)析數據。

 Phenom ProPhenom ProXPhenom XL
光學放(fàng)大(dà)20 - 135 X20 - 135 X3 - 16 X
電子光學放(fàng)大(dà)80 - 150,000 X80 - 150,000 X80 - 100,000 X
分(fēn)辨率優于 8 nm優于 8 nm優于 14 nm
數字放(fàng)大(dà)Max. 12 XMax. 12 XMax. 12 X
光學導航相機彩色彩色彩色
加速電壓5 Kv - 15 Kv  連續可調5 Kv - 15 Kv  連續可調5 Kv - 20 Kv  連續可調
真空模式高分(fēn)辨率模式高分(fēn)辨率模式高分(fēn)辨率模式
降低荷電效應模式降低荷電效應模式降低荷電效應模式
  高真空模式
探測器背散射電子探測器背散射電子探測器背散射電子探測器
二次電子探測器 (選配)二次電子探測器 (選配)二次電子探測器 (選配)
樣品尺寸 大(dà)直徑 32 mm (Ø) 大(dà)直徑 32 mm (Ø) 大(dà) 100 mm X 100 mm
可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品台
樣品高度 高 100 mm 高 100 mm 高 65 mm

 

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