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Delphi CLEM熒光掃描電鏡一(yī)體(tǐ)機是荷蘭掃描電鏡制造商(shāng) Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商(shāng) Delmic 于 2014 年聯合推出的将熒光顯微鏡和台式電鏡高度整合在一(yī)起的設備。
Delphi CLEM熒光掃描電鏡一(yī)體(tǐ)機采用光電關聯顯微技術（CLEM），熒光定位樣品中(zhōng)感興趣區域，電鏡接力高倍觀察，通過在熒光圖像中(zhōng)疊加電鏡圖像，在一(yī)張圖像裏同時獲得樣品功能物(wù)質分(fēn)布信息和高分(fēn)辨結構信息。
電鏡不能感知(zhī)熒光信号，光電關聯顯微技術的難點是在電鏡裏找回熒光所确定的感興趣區域，德飛使用圖像無縫切換技術，兩種光路對同一(yī)位置點直接成像，*解決了這個難題。
Delphi CLEM的電子束自動校準技術，無需人工(gōng)幹預就能得到精度高達 200 nm 的熒光和電子疊加照片，既節約了時間，又(yòu)确保了疊加圖像的可信度。
德飛面向廣大(dà)生(shēng)物(wù)工(gōng)作者，提供可信，高效，簡便生(shēng)物(wù)圖像解決方案，是連接熒光顯微鏡和掃描電鏡的*橋梁；
| Delphi iCLEM | |
| 電鏡分(fēn)辨率 | 優于 14 nm |
| 電子放(fàng)大(dà) | 高 130,000 X |
| 探測器 | 四分(fēn)割背散射電子探測器 |
| 燈絲材料 | 長壽命 1500 小(xiǎo)時，高亮度 CeB6 燈絲 |
| 加速電壓 | 5Kv - 10Kv 連續可調 |
| 熒光分(fēn)辨率 | 290 nm |
| 熒光物(wù)鏡 | 平場複消色差物(wù)鏡 40 X（NA0.95） |
| 熒光濾塊 | DAPI, FITC, TRITC, Cy5 或其它選配 |
| 熒光相機 | sCMOS 相機，像素數 2048 X 2048 |
| 熒光光源 | 四通道固态 LED 光源，激發在 395/ 485/ 575/ 650 nm |
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